• Gyroscope laser HeNe LM-0600

    Objectifs pédagogiques

    • Effet Sagnac
    • Interférence Plaques demi et quart d’onde
    • Laser annulaire HeNe
    • Détection de fréquence de battement
    • Déphaseur optique 90°
    • Étalon monomode
    • Polarisation linéaire et elliptique
    • Discrimination de direction
    • Effet de verrouillage
    • Mesure d’angle de haute précision
    • Gyroscope laser actif
    • Rotation contrôlée par processeur
    • Comptage de fréquence quadruple
  • Interféromètre laser Michelson LM-0100

    Objectifs pédagogiques

    • DPSSL comme source cohérente
    • Propriétés du rayonnement laser
    • Interférence à deux faisceaux
    • Contraste de frange
    • Longueur de cohérence
    • Détection de franges
    • Ondes sphériques et planes
    • Laser HeNe à deux modes
  • LE-0300 Laser HeNe

    Objectifs pédagogiques

      • Niveaux d’énergie de He-Ne
      • Spectre d’émission de He-Ne
      • Gain
      • Longitudinal & Transversal Modes
      • Sélection du mode et de la ligne laser
      • Filtre biréfringent
      • Prisme de Littrow
      • Single Mode Etalon
  • LE-0400 Caractérisation d’une diode Laser

    Objectifs pédagogiques

    • Types de diodes laser
    • Profil de Faisceau laser
    • Axe rapide et lent
    • Propriétés spectrales
    • Seuil laser
    • Efficacité
    • Mise en forme du faisceau
    • État de polarisation
  • LM-0700 Sécurité et classification des lasers

    Objectifs pédagogiques

    • Normes CEI 60825 ou ANSI Z136
    • Règlement sur la sécurité laser
    • Divergence du faisceau laser
    • Intensité laser max.
    • Rayonnement admissible
    • Distance de sécurité
    • Effets destructeurs
    • Classification laser
    • Lunettes de sécurité
    • Laser pulsé
  • LT-0300 Amplificateur à fibre dopée à l’erbium – EDFA

    Objectifs pédagogiques

    • Absorption / émission de milieu de gain
    • Pompage optique
    • Durée de vie de fluorescence
    • Seuil laser et efficacité de la pente
    • Pointes laser
    • Introduction sur les pertes
    • Comportement dynamique du laser
    • Extension: amplificateur à fibre dopée à l’erbium
  • PE-0800 kit Holographie

    Objectifs pédagogiques

    • Hologramme de transmission
    • Hologramme de réflexion
    • Développement photographique
    • Interférence .
    • Filtre spatial à fibre
    • Séparateur de faisceau de fibres
    • Laser monomode
  • Phenom GSR: Microscope électronique à balayage de table

    L’analyse des résidus de balle (GSR) joue un rôle important dans la détermination si une arme à feu a été utilisée dans un crime. Les techniques d’analyse GSR établies sont basées sur l’utilisation d’un microscope électronique à balayage (SEM), qui est utilisé pour scanner l’échantillon et trouver des particules de GSR suspectes. Si une particule suspecte est trouvée, une technique de spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) est utilisée pour identifier les éléments de cette particule.

    Le SEM de bureau Thermo Scientific Phenom Perception GSR est le seul SEM dédié spécifiquement conçu pour l’analyse des résidus par balle. Parce que le système est automatisé, il vous permet d’accélérer le processus d’analyse. Sans avoir à modifier vos paramètres à chaque fois, vous pouvez vous concentrer immédiatement sur la tâche à accomplir.

    Une source CeB6 haute luminosité est au cœur du système Phenom de bureau. Cela signifie que vous pouvez être sûr qu’il fournira une utilisation quotidienne fiable et durable et qu’il n’aura pas besoin d’être remplacé de manière inattendue. Le SEM de bureau Phenom Perception GSR rend l’analyse des résidus par balle à la demande, plus rapide, plus facile et plus fiable que jamais. Parfait pour tous les laboratoires occupés qui souhaitent gagner du temps et de l’espace au sol.

    Solution de résidus de balle dédiée
    N’a besoin que d’un petit espace de laboratoire
    Fonctionnement stable, disponible 24/7
    Source CeB6 longue durée de vie

  • Phenom ParticleX TC : Microscope électronique à balayage de table

    Le SEM de bureau Thermo Scientific Phenom ParticleX TC est un SEM de bureau polyvalent permettant une propreté technique à l’échelle microscopique.

    Solution polyvalente pour une analyse interne de haute qualité, le Phenom ParticleX Desktop SEM vous donne la possibilité d’effectuer rapidement une caractérisation, une vérification et une classification des matériaux, en soutenant votre production avec des données rapides, précises et fiables. Le système est simple à utiliser et rapide à apprendre, ouvrant l’analyse des particules et des matériaux à un plus large groupe d’utilisateurs.

  • Phenom Pharos: Microscope électronique à balayage de table

    Le Thermo Scientific Phenom Pharos est un SEM de bureau avec une source FEG qui rend des images nettes et à haute luminosité et les avantages d’une source FEG accessibles à tous. Il est également facile à utiliser, de l’installation initiale à l’utilisation réelle, grâce à sa conception intuitive et compacte.

    La conception matérielle avancée et les détecteurs permettent une image rapide et une manipulation facile et infaillible.

     

  • Phenom Pro: Microscope électronique à balayage de table

    La sixième génération de SEM de bureau Thermo Scientific Phenom Pro G6 comble le vide entre la microscopie optique et l’analyse SEM sur modèle de sol, élargissant ainsi les capacités des installations de recherche.

    Rapide et facile à utiliser, le SEM de bureau Phenom Pro G6 peut être utilisé pour alléger le fardeau des analyses de routine pour les échantillons courants des instruments SEM de modèle de sol. La configuration de l’instrument et le mécanisme de chargement des échantillons garantissent une imagerie rapide avec un temps minimal de réglage entre les expériences.

    Les utilisateurs d’installations de tout niveau d’expérience peuvent rapidement commencer à produire des résultats de haute qualité avec le SEM de bureau Phenom Pro G6. Sa source CeB6 à longue durée de vie offre une luminosité élevée tout en nécessitant peu d’entretien. De plus, sa stabilité élevée et son petit facteur de forme permettent à l’instrument d’être utilisé dans pratiquement n’importe quel environnement de laboratoire; plus simplement, il ne nécessite pas d’infrastructure spécialisée ni de supervision d’experts

  • Phenom ProX : Microscope Electronique à balayage de table

    La sixième génération de SEM de bureau Thermo Scientific Phenom ProX G6 comble le vide entre la microscopie optique et l’analyse SEM sur modèle de sol, élargissant ainsi les capacités des installations de recherche. Il offre une imagerie rapide et haute résolution en plus d’un détecteur de diffraction des rayons X (EDS) à dispersion d’énergie intégré pour une analyse élémentaire rapide, facile à utiliser et robuste.

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