Phenom XL G2: Microscope électronique à balayage de table

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Le microscope électronique à balayage (SEM) de bureau Thermo Scientific Phenom XL G2 de nouvelle génération automatise votre processus de contrôle de la qualité, fournissant des résultats précis et reproductibles tout en libérant du temps pour un travail à valeur ajoutée.

Répondez aux normes de qualité avec une solution intuitive et automatisée qui élimine les tâches manuelles et répétitives:

Obtenez les informations de qualité dont vous avez besoin pour détecter rapidement les pannes et ajustez rapidement votre processus de production si nécessaire.
Automatisez le contrôle de la qualité pour traiter un volume élevé d’échantillons avec moins de risques d’erreur humaine.
Soyez rapidement opérationnel avec une toute nouvelle interface facile à maîtriser, idéale pour un large éventail d’applications.
Le Phenom XL G2 Desktop SEM présente des images plein écran et un délai moyen de 60 secondes. La source d’électrons unique CeB6 offre une longue durée de vie avec moins d’entretien. Le petit format nécessite peu d’espace de laboratoire, ce qui vous permet de placer le microscope exactement là où vous en avez besoin.

Référence: Phenom XL G2 Catégories: ,

Automatisation
Le Phenom XL G2 Desktop SEM est accessible en standard via l’interface de programmation Phenom (PPI), une méthode puissante pour contrôler le Phenom XL G2 Desktop SEM via des scripts Python. Si l’utilisateur dispose d’un flux de travail SEM avec un travail répétitif pour analyser des particules, des pores, des fibres ou de grandes images SEM, l’instrument peut le faire automatiquement.

Source CeB₆ longue durée de vie
La source CeB₆ (hexaborure de cérium) à longue durée de vie présente plusieurs avantages. Le premier est la luminosité élevée qu’il offre par rapport au tungstène, ce qui permet à de nombreux utilisateurs d’obtenir des images de haute qualité avec de nombreux détails. Deuxièmement, la durée de vie de la source est très longue et la maintenance peut être planifiée.

Porte-échantillon eucentrique
Dans de nombreuses applications SEM, un utilisateur peut obtenir plus d’informations sur les propriétés de l’échantillon si l’échantillon peut être incliné et tourné. Le porte-échantillon eucentrique en option permet une inclinaison et une rotation eucentriques, rendant la recherche et l’analyse plus rapides et plus précises.

Spécifications:

Electron optique
  • Source thermionique longue durée de vie (CeB6)
  • Courants de faisceau multiples
Plage de grossissement optique électronique
  • 160 – 200,000x
Grossissement optique léger
  • 3–16x
Résolution
  • <10 nm
Options de résolution d’image
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Tensions d’accélération
  • Par défaut: 5 kV, 10 kV et 15 kV
  • Mode avancé: plage réglable entre 4,8 kV et 20,5 kV mode d’imagerie et d’analyse
Niveaux de vide
  • Faible – moyen – élevé
Détecteur
  • Détecteur d’électrons rétrodiffusés (standard)
  • Détecteur d’électrons secondaire (en option)
  • Détecteur de spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) (en option)
Taille de l’échantillon
  • Max. 100 mm x 100 mm (up to 36 x 12 mm pin stubs)
  • Max. 40 mm (h)
Temps de chargement de l’échantillon
  • Optique légère <5 s
  • Electron optique <60 s

Fiche technique

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