Phenom ProX : Microscope Electronique à balayage de table

La sixième génération de SEM de bureau Thermo Scientific Phenom ProX G6 comble le vide entre la microscopie optique et l’analyse SEM sur modèle de sol, élargissant ainsi les capacités des installations de recherche. Il offre une imagerie rapide et haute résolution en plus d’un détecteur de diffraction des rayons X (EDS) à dispersion d’énergie intégré pour une analyse élémentaire rapide, facile à utiliser et robuste.

Principales caractéristiques:

  • Sans effort
  • Rapide et facile à utiliser, le Phenom Pro Desktop SEM peut être Utilisé pour alléger le fardeau de l’analyse de routine pour les échantillons courants des instruments SEM de modèle de sol.
  • La configuration de l’instrument et le mécanisme de chargement des échantillons garantissent une imagerie rapide avec un temps minimal de réglage entre les expériences.

Source CeB6 longue durée de vie:
Les utilisateurs d’installations de tout niveau d’expérience peuvent rapidement commencer à produire des résultats de haute qualité avec le SEM Phenom Pro Desktop. Sa source CeB6 à longue durée de vie offre une luminosité élevée tout en nécessitant peu d’entretien.

Facteur de forme robuste et compact:
Sa stabilité élevée et son petit facteur de forme permettent à l’instrument d’être utilisé dans pratiquement n’importe quel environnement de laboratoire; plus simplement, il ne nécessite pas d’infrastructure spécialisée ni de supervision d’experts.

Spécifications:

Grossissement optique
  • 20–134x
Plage de grossissement optique électronique
  • 160-350,000x
Résolution
  • ≤ 6 nm SED and ≤ 8 nm BSD
Zoom numérique
  • Max. 12x
Caméra de navigation optique légère
  • Couleur
Tensions d’accélération
  • Par défaut: 5 kV, 10 kV et 20,5 kV
  • Mode avancé: plage réglable entre 4,8 kV et 15 kV mode d’imagerie et d’analyse
Modes de vide
  • Mode vide poussé
  • Mode de réduction de charge via le porte-échantillon à faible vide en option
Détecteur
  • Détecteur d’électrons rétrodiffusés (standard)
  • Détecteur de rayons X à dispersion d’énergie (standard)
  • Détecteur d’électrons secondaire (en option)
Taille de l’échantillon
  • Jusqu’à 25 mm de diamètre (32 mm en option)
Hauteur de l’échantillon
  • usqu’à 35 mm (en option 100 mm)

Fiche Technique en PDF

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