Phenom Pro: Microscope électronique à balayage de table

La sixième génération de SEM de bureau Thermo Scientific Phenom Pro G6 comble le vide entre la microscopie optique et l’analyse SEM sur modèle de sol, élargissant ainsi les capacités des installations de recherche.

Rapide et facile à utiliser, le SEM de bureau Phenom Pro G6 peut être utilisé pour alléger le fardeau des analyses de routine pour les échantillons courants des instruments SEM de modèle de sol. La configuration de l’instrument et le mécanisme de chargement des échantillons garantissent une imagerie rapide avec un temps minimal de réglage entre les expériences.

Les utilisateurs d’installations de tout niveau d’expérience peuvent rapidement commencer à produire des résultats de haute qualité avec le SEM de bureau Phenom Pro G6. Sa source CeB6 à longue durée de vie offre une luminosité élevée tout en nécessitant peu d’entretien. De plus, sa stabilité élevée et son petit facteur de forme permettent à l’instrument d’être utilisé dans pratiquement n’importe quel environnement de laboratoire; plus simplement, il ne nécessite pas d’infrastructure spécialisée ni de supervision d’experts

Sans effort
La caméra de navigation couleur du Phenom Pro Desktop SEM fournit des informations qui vous aident à faire le lien entre les images optiques et électroniques. Les utilisateurs sont prêts à prendre des images après seulement 10 minutes de formation de base. Une grande variété de porte-échantillons est disponible pour s’adapter à une gamme d’applications. Le chargement des échantillons est rapide et facile grâce à notre technologie brevetée de chargement sous vide des échantillons.

Logiciel Phenom ProSuite
Le logiciel Thermo Scientific Phenom ProSuite est une plate-forme d’application logicielle en option qui a été développée pour améliorer encore les capacités du SEM de bureau Phenom. Le logiciel Phenom ProSuite permet d’extraire un maximum d’informations à partir d’images obtenues sur le SEM Phenom Pro Desktop.

Détecteur d’électrons secondaire
Un détecteur d’électrons secondaire (SED) est disponible en option sur le Phenom Pro Desktop SEM. Le SED recueille des électrons à faible énergie de la couche superficielle supérieure de l’échantillon. C’est donc le choix idéal pour révéler des informations détaillées sur la surface de l’échantillon.

Spécifications:

Grossissement optique léger
  • 20-134x
Plage de grossissement optique électronique
  • 160-350,000x
Résolution
  • ≤ 6 nm SED and ≤ 8 nm BSD
Zoom numérique
  • Max. 12x
Caméra de navigation optique légère
  • Couleur
Tensions d’accélération
  • Par défaut: 5 kV, 10 kV et 15 kV
  • Mode avancé: plage réglable entre 4,8 kV et 20,5 kV en mode d’imagerie
Modes de vide
  • Mode vide poussé
  • Mode de réduction de charge via le porte-échantillon à faible vide en option
Détecteur
  • Détecteur d’électrons rétro diffusés (standard)
  • Détecteur de spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (en option)
  • Détecteur d’électrons secondaire (en option)
Taille de l’échantillon
  • Jusqu’à 25 mm de diamètre
  • 32 mm (en option)
Hauteur de l’échantillon
  • Jusqu’à 35 mm
  • 100 mm (en option)

Fiche technique PDF

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