Phenom ParticleX TC : Microscope électronique à balayage de table

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Le SEM de bureau Thermo Scientific Phenom ParticleX TC est un SEM de bureau polyvalent permettant une propreté technique à l’échelle microscopique.

Solution polyvalente pour une analyse interne de haute qualité, le Phenom ParticleX Desktop SEM vous donne la possibilité d’effectuer rapidement une caractérisation, une vérification et une classification des matériaux, en soutenant votre production avec des données rapides, précises et fiables. Le système est simple à utiliser et rapide à apprendre, ouvrant l’analyse des particules et des matériaux à un plus large groupe d’utilisateurs.

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Propreté technique
Avec la demande croissante d’analyse de particules plus petites au-delà de la portée de la microscopie optique dans les industries (automobiles), le MEB de bureau Phenom ParticleX TC (Propreté technique) permet la microscopie électronique à balayage automatisée avec spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (EDS). Il s’agit d’un avantage majeur par rapport à la microscopie optique car il permet la classification chimique des particules, offrant ainsi de grandes informations sur vos processus et / ou environnements de production. Des rapports standard conformes à VDA 19 / ISO 16232 ou ISO 4406/4407 sont disponibles.

Détecteur d’électrons secondaire
Un détecteur d’électrons secondaire (SED) est disponible en option sur le MEB de bureau Phenom ParticleX TC (Technical Propreté). Le SED recueille des électrons à faible énergie de la couche superficielle supérieure de l’échantillon. C’est donc le choix idéal pour révéler des informations détaillées sur la surface de l’échantillon. Le SED peut être d’une grande utilité pour les applications où la topographie et la morphologie sont importantes. C’est souvent le cas lors de l’étude des microstructures, des fibres ou des particules.

Utilisation générale du SEM
L’interface utilisateur est basée sur la technologie éprouvée de facilité d’utilisation appliquée aux produits SEM de bureau Phenom à succès. L’interface permet aux utilisateurs existants et nouveaux de se familiariser rapidement avec le système avec un minimum de formation.

Cartographie élémentaire et balayage de ligne
Pour un utilisateur, il suffit de cliquer et de commencer à travailler avec la fonctionnalité de cartographie élémentaire et de balayage de ligne du SEM de bureau Phenom ParticleX TC (Propreté technique). La fonctionnalité de balayage de ligne montre la distribution quantifiée des éléments dans un tracé linéaire.

Spécifications:

Electron optique
  • Source thermionique longue durée de vie (CeB6)
  • Courants de faisceau multiples
Plage de grossissement optique électronique
  • 160 – 200,000x
 

Grossissement lumière optique

  • 3–16x
Résolution
  • <10 nm
Options de résolution d’image
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Tensions d’accélération
  • Par défaut: 5 kV, 10 kV et 15 kV
  • Mode avancé: plage réglable entre 4,8 kV et 20,5 kV mode d’imagerie et d’analyse
Niveaux de vide
  • Faible – moyen – élevé
Détecteurs
  • Détecteur d’électrons rétrodiffusés (standard)
  • Détecteur de spectroscopie X (EDS) à dispersion d’énergie (standard)
  • Détecteur d’électrons secondaire (en option)
Taille de l’échantillon
  • Max. 100 mm x 100 mm (up to 36 x 12 mm pin stubs)
  • Max. 40 mm (h)
Temps de chargement de l’échantillon
  • Optique légère <5 s
  • Electron optique <60 s

 

Fiche technique

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