Physique – ESLI

Acquisition d’un profil d’intensité d’une figure de diffraction ou d’interférences TPO213

Acquisition d’un profil d’intensité d’une figure de diffraction ou d’interférences TPO213
Alimentation 0-24 V C.A./C.C. 3640.00
Section C.C. puissante, stabilisée avec un limitateur de courant réglable

Sortie C.A isolée du bruit et la distorsion du secteur

Lecture simultanée des tensions et des courants CA et CC

Rendement élevé – faible température

Pas de ventilateur – pas de bruit
Alimentation 0-24 V C.A./C.C. 3640.00
Alimentation C.C. de 0-500 V stabilisée, 50 mA-3655.75

Alimentation C.C. de 0-500 V stabilisée, 50 mA-3655.75
Ampèremètre Analogique -3815.70

Ampèremètre Analogique -3815.70
Diffraction d’électrons

La diffraction d’électrons sur un film graphite polycristallin démontre la nature ondulatoire des électrons.
L’on observe sur l’écran fluorescent des tubes de diffraction d’électrons deux anneaux de diffraction placés autour d’une tâche centrale dans la direction du faisceau. Ces anneaux sont générés par la diffraction d’électrons sur les plans réticulaires des microcristaux sur le film graphite qui satisfont à la condition de Bragg. L’observation est comparable au résultat de la diffraction Debye-Scherrer de rayons X sur une poudre cristalline.

Diffraction d’électrons
Diffraction et Interférences au laser TPO212

Diffraction et Interférences au laser TPO212
Effet Hall dans les semi-conducteurs

Effet Hall dans les semi-conducteurs
Effet photoélectrique-SE-6609

Le kit à effet photoélectrique utilise la méthode conventionnelle pour déterminer la constante de Planck à moins de 5%. Premièrement, la plaque métallique de la photodiode est éclairée par diverses fréquences lumineuses; choisi avec des filtres. Ensuite, la tension est ajustée pour arrêter le courant photoélectrique. La tension d’arrêt est ensuite tracée par rapport à la fréquence et la constante de Planck , qui sera déterminée à l’aide de la pente.

Effet photoélectrique-SE-6609
Expérience sur les bases de la méthode d’écho d’impulsion (A-Scan)-VK-PHY01

Expérience sur les bases de la méthode d’écho d’impulsion (A-Scan)-VK-PHY01
Gyroscope laser HeNe LM-0600
Objectifs pédagogiques

Effet Sagnac

Interférence Plaques demi et quart d’onde

Laser annulaire HeNe

Détection de fréquence de battement

Déphaseur optique 90°

Étalon monomode

Polarisation linéaire et elliptique

Discrimination de direction

Effet de verrouillage

Mesure d’angle de haute précision

Gyroscope laser actif

Rotation contrôlée par processeur

Comptage de fréquence quadruple
Gyroscope laser HeNe LM-0600
Instruments optiques et aberrations TPO113

Instruments optiques et aberrations TPO113
Interféromètre laser Michelson LM-0100
Objectifs pédagogiques

DPSSL comme source cohérente

Propriétés du rayonnement laser

Interférence à deux faisceaux

Contraste de frange

Longueur de cohérence

Détection de franges

Ondes sphériques et planes

Laser HeNe à deux modes
Interféromètre laser Michelson LM-0100